設備特點
1、基于亞像素輪廓對比+SDD 算法，對微小(xiǎo)缺陷的偵測更加精确。
2、傳輸速度爲 12 米/分(fēn)鍾，以 18*24inch 标準闆計算，最高可達 800PNL/小(xiǎo)時。
3、使用專利設計的多角度 LED 光學聚焦及可程控電(diàn)源系統，對電(diàn)鍍銅/反轉銅箔适應性強。
4、CAM->AOI 資(zī)料分(fēn)析轉換時間爲 3-8 分(fēn)鍾，AOI 資(zī)料制作時間短，同時支持 ODB++ & Gerber RS274X。
5、多個料号可排入軟件料号查找處理池，在線處理時進行自動智能識别。
6、采用 GPU 和 Intel SIMD SSE 指令集等多種加速方式，支撐先進算法需求的超大(dà)計算量，處理及擴展能力佳。
7、切換料号時軟件智能分(fēn)析拾取對位區塊，大(dà)部分(fēn)情況下(xià)無需人工(gōng)幹預。
8、可選配離(lí)線複檢功能進行缺陷初篩，并預留 AI 深度學習接口，實現智能化 VRS.
設備規格
型号 | AOI‐100 V6 | AOI‐100 V7 | AOI‐100 V8 | AOI‐100 V9 |
最小(xiǎo)線寬/線距 | 3.0mil/3.0mil | 2.5mil/2.5mil | 2.0mil/2.0mil | 1.8mil/1.8mil |
産能(塊/小(xiǎo)時) | 800 PNL MAX | 700 PNL MAX | 600 PNL MAX | 550 PNL MAX |
最大(dà)檢測尺寸 | 27*26.4 Inches (685*670 mm) | 27*26.4 Inches (685*670 mm) | 26*26 Inches (670*670 mm) | 26*26 Inches (670*670 mm) |
檢測尺寸擴展 | 進闆傳輸方向的檢測尺支持擴展至 30 Inches（762mm）‐‐[選配] |
最小(xiǎo)檢測尺寸 | 14*14 Inches | 14*14 Inches | 14*14 Inches | 14*14 Inches |
闆厚範圍 | 0.05‐4.5mm Min (0.05mm 爲不含銅的 Core 料厚度) |
圖像采集系統 | 16K High Resolution Line Scan System / 16K 高分(fēn)辨率線掃描成像系統 |
數據格式 | GERBER RS‐274X \ ODB++ |
資(zī)料轉換時間 | 3 ‐ 10 分(fēn)鍾 |
檢測闆面形式 | [标配]：内層、布線類型包括訊号層、電(diàn)源地層、混合屏蔽層、網格 [選配]：外(wài)層線路訊号層、電(diàn)源地層、混合屏蔽層、網格 |
檢測材質 | FR-4/CEM 裸銅蝕刻闆，電(diàn)鍍銅，二次銅、鋁基闆 |
可檢測缺陷 | 短路;開(kāi)路;線寬/線距超公差;缺口;毛刺;針孔;殘銅;隔離(lí)圈凸銅 |
定位方式 | 自動整闆靠邊定位 |
缺陷複核 | 檢修站核準 |
光源系統 | 可控制 LED 聚光式線掃多組式系統 (壽命>=20000 小(xiǎo)時) |
檢測方法 | SIP 技術、元素特征學習、亞像素輪廓分(fēn)析比較 |
操作界面 | 支持中(zhōng)英文 |
工(gōng)作環境 | 18℃～26℃ RH :40%～60%（非凝結） |
電(diàn)源 | AC 220V 50Hz 單相三線制 Fuse 32Amp | AC 380V 50Hz 三相五線制 Fuse 25Amp |
氣源 | 2～5Kg.f/cm2 |
尺寸（不含電(diàn)腦機櫃） L×W×H(mm) | 2350×1150×2100 | 2350×1150×2100 | 2350×1150×2100 | 2350×1150×2100 |
質量 | 約 800 KG | 約 800 KG | 約 800 KG | 約 800 KG |
設備可偵測到的典型缺陷： |
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線凸/間距違反 | 隔離(lí)圈凸銅 |
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短路 | 針孔 |
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在線小(xiǎo)缺口 | 線幼 |
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微短 |
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盲孔凹陷 |