設備特點
1、基于亞像素輪廓對比+SDD 算法，對微小(xiǎo)缺陷的偵測更加精(jīng)确。
2、傳輸速度為(wèi) 12 米/分(fēn)鍾，以 18*24inch 标準闆計算，最高可(kě)達 800PNL/小(xiǎo)時。
3、使用(yòng)專利設計的多(duō)角度 LED 光學(xué)聚焦及可(kě)程控電(diàn)源系統，對電(diàn)鍍銅/反轉銅箔适應性強。
4、CAM->AOI 資料分(fēn)析轉換時間為(wèi) 3-8 分(fēn)鍾，AOI 資料制作(zuò)時間短，同時支持 ODB++ & Gerber RS274X。
5、多(duō)個料号可(kě)排入軟件料号查找處理(lǐ)池，在線(xiàn)處理(lǐ)時進行自動智能(néng)識别。
6、采用(yòng) GPU 和 Intel SIMD SSE 指令集等多(duō)種加速方式，支撐先進算法需求的超大計算量，處理(lǐ)及擴展能(néng)力佳。
7、切換料号時軟件智能(néng)分(fēn)析拾取對位區(qū)塊，大部分(fēn)情況下無需人工(gōng)幹預。
8、可(kě)選配離線(xiàn)複檢功能(néng)進行缺陷初篩，并預留 AI 深度學(xué)習接口，實現智能(néng)化 VRS.
設備規格
型号 | AOI‐100 V6 | AOI‐100 V7 | AOI‐100 V8 | AOI‐100 V9 |
最小(xiǎo)線(xiàn)寬/線(xiàn)距 | 3.0mil/3.0mil | 2.5mil/2.5mil | 2.0mil/2.0mil | 1.8mil/1.8mil |
産(chǎn)能(néng)(塊/小(xiǎo)時) | 800 PNL MAX | 700 PNL MAX | 600 PNL MAX | 550 PNL MAX |
最大檢測尺寸 | 27*26.4 Inches (685*670 mm) | 27*26.4 Inches (685*670 mm) | 26*26 Inches (670*670 mm) | 26*26 Inches (670*670 mm) |
檢測尺寸擴展 | 進闆傳輸方向的檢測尺支持擴展至 30 Inches（762mm）‐‐[選配] |
最小(xiǎo)檢測尺寸 | 14*14 Inches | 14*14 Inches | 14*14 Inches | 14*14 Inches |
闆厚範圍 | 0.05‐4.5mm Min (0.05mm 為(wèi)不含銅的 Core 料厚度) |
圖像采集系統 | 16K High Resolution Line Scan System / 16K 高分(fēn)辨率線(xiàn)掃描成像系統 |
數據格式 | GERBER RS‐274X \ ODB++ |
資料轉換時間 | 3 ‐ 10 分(fēn)鍾 |
檢測闆面形式 | [标配]：内層、布線(xiàn)類型包括訊号層、電(diàn)源地層、混合屏蔽層、網格 [選配]：外層線(xiàn)路訊号層、電(diàn)源地層、混合屏蔽層、網格 |
檢測材質(zhì) | FR-4/CEM 裸銅蝕刻闆，電(diàn)鍍銅，二次銅、鋁基闆 |
可(kě)檢測缺陷 | 短路;開路;線(xiàn)寬/線(xiàn)距超公(gōng)差;缺口;毛刺;針孔;殘銅;隔離圈凸銅 |
定位方式 | 自動整闆靠邊定位 |
缺陷複核 | 檢修站核準 |
光源系統 | 可(kě)控制 LED 聚光式線(xiàn)掃多(duō)組式系統 (壽命>=20000 小(xiǎo)時) |
檢測方法 | SIP 技(jì )術、元素特征學(xué)習、亞像素輪廓分(fēn)析比較 |
操作(zuò)界面 | 支持中(zhōng)英文(wén) |
工(gōng)作(zuò)環境 | 18℃～26℃ RH :40%～60%（非凝結） |
電(diàn)源 | AC 220V 50Hz 單相三線(xiàn)制 Fuse 32Amp | AC 380V 50Hz 三相五線(xiàn)制 Fuse 25Amp |
氣源 | 2～5Kg.f/cm2 |
尺寸（不含電(diàn)腦機櫃） L×W×H(mm) | 2350×1150×2100 | 2350×1150×2100 | 2350×1150×2100 | 2350×1150×2100 |
質(zhì)量 | 約 800 KG | 約 800 KG | 約 800 KG | 約 800 KG |
設備可(kě)偵測到的典型缺陷： |
| 
|
線(xiàn)凸/間距違反 | 隔離圈凸銅 |
 | 
|
短路 | 針孔 |
| 
|
在線(xiàn)小(xiǎo)缺口 | 線(xiàn)幼 |
| 
|
微短 |
| 
|
盲孔凹陷 |