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AOI自動光學(xué)檢測機 The RapierII-750A/450
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AOI自動光學(xué)檢測機 The RapierII-750A/450
AOI自動光學(xué)檢測機 The RapierII-750A/450 AOI自動光學(xué)檢測機 The RapierII-750A/450
AOI自動光學(xué)檢測機 The RapierII-750A/450 Features
設備特點1、更接近于人類視覺機制的AOI。2、齊全的線(xiàn)路檢查參數,核心缺陷偵測能(néng)力強。3、配備多(duō)種參數偵測邏輯,确保不漏測。4、超強糾錯:闆變形、闆翹對位模式。5、将整闆分(fēn)為(wèi)重要區(qū)域和非重要區(qū)域,重要區(qū)域對應于細小(xiǎo)線(xiàn)路及其周邊區(qū)域,對重要區(qū)域和非重要區(qū)域采用(yòng)不同的判斷标準。确保不漏檢的情況下少報假點。6、在直線(xiàn)拐角處,因有(yǒu)的CAM資料拐角尖銳,而實際線(xiàn)路拐角常常相對CAM資料拐角更平滑,易報假點。而對于拐角如果不檢測,又(yòu)容易在拐角處出現缺口、凸銅等漏測情況。長(cháng)劍AOI對于直線(xiàn)拐角進行專類分(fēn)析,引入獨特的偵測邏輯,避免産(chǎn)生假點。7、三種鑽孔覆蓋模式:鑽孔超差覆蓋、孔破覆蓋、鑽孔開路覆蓋;适應不同客戶不同闆對鑽孔的檢測要求,對于鑽孔不好的闆,能(néng)大幅減少假點,減少VRS工(gōng)作(zuò)量,提高産(chǎn)能(néng)。設備規格長(cháng)劍II-750A檢查能(néng)力測試能(néng)力最佳測試能(néng)力:3mil (線(xiàn)寬線(xiàn)距)極限測試能(néng)力:2mil (線(xiàn)寬線(xiàn)距)檢查闆厚0.01 ~8mm 掃描效率(以18"×24"計)4mil 240面/小(xiǎo)時   3mil 220面/小(xiǎo)時   2mil...
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